一、概述

      SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（Vector Network Analyzer），其測量頻率高達8.5GHz,支持4端口S參數(shù)測量，差分(平衡)測量，時域測量，濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量，支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴展功能，支持極限測試、紋波測試功能，支持夾具仿真和去嵌入功能，支持線性頻率掃描、對數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線性功率掃描方式，支持SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response等校準(zhǔn)方法，可廣泛應(yīng)用于濾波器，雙工器，天線，有源器件，射頻線纜等領(lǐng)域的研發(fā)，生產(chǎn)制造。

      SNA5000X系列具備12.1英寸觸摸屏，支持外接鼠標(biāo)鍵盤操作，擁有友好的人機交互界面，相比傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，體積更小，重量更輕，為客戶節(jié)省了大量的實驗室及生產(chǎn)線空間。SNA5000X系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀憑借其豐富的功能及優(yōu)異的交互體驗，廣泛適用于公司研發(fā)，生產(chǎn)制造，研究院所等場景。

二、四端口矢網(wǎng)SNA5000X系列技術(shù)參數(shù)

三、四端口矢網(wǎng)SNA5000X系列主要特性

(1) 頻率4.5 GHz/8.5 GHz

(2) 頻率分辨率1 Hz

(3) 幅度分辨率0.05 dB

(4) 中頻帶寬范圍10 Hz~3 MHz

(5) 輸出功率設(shè)置范圍-55 dBm ~ +10 dBm

(6) 動態(tài)范圍140dB(Typ.)

(7) 校準(zhǔn)類型：響應(yīng)校準(zhǔn)，增強響應(yīng)校準(zhǔn)，單端口校準(zhǔn)，全二端口校準(zhǔn)，全三端口校準(zhǔn)，全四端口校準(zhǔn)，TRL校準(zhǔn)

(8) 支持直流偏置功能：是

(9) 通信接口：LAN，USB Device，USB Host(USB-GPIB)

(10) 遠(yuǎn)程控制：SCPI / Labview / IVI based on USB-TMC / VXI-11/ Socket / Telnet / Webserver

(11) 觸摸控制：Multi Touch，Mouse，Keyboard

(12) 屏幕尺寸：12.1 英寸

(13) 視頻輸出：HDMI

(14) 測量分析類型：S參數(shù)測量，差分(平衡)測量，接收機測量，時域分析、極限測試、紋波測試、帶寬分析、阻抗轉(zhuǎn)換、端口匹配、去嵌入功能等

四、產(chǎn)品特點

(1) 低噪聲，高動態(tài)范圍

     系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標(biāo)，它是VNA源的輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動態(tài)范圍可達125 dB@10Hz IFBW，接收機噪底-125 dBm/Hz，可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景，比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

(2) 從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試

     SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進行全4端口S參數(shù)測試，并且具備多種顯示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗證天線，濾波器等的特性時，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進行通過失敗測試，有利于提高生產(chǎn)效率。

     SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時，可將輸入輸出端口進行阻抗變換，從而進行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。

(3) 時域分析功能

     SNA5000X系列支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時延等參數(shù)進行分析。

(4) 眼圖分析

     SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進而估計系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心，為需要對高速信號進行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。

(5) 消除夾具效應(yīng)

     在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。

(6) 校準(zhǔn)件

     校準(zhǔn)是VNA進行可靠測量前必須進行的步驟。鼎陽科技目前可提供8種SOLT機械校準(zhǔn)件，分為經(jīng)濟級校準(zhǔn)件和精密級校準(zhǔn)件。校準(zhǔn)頻率范圍涵蓋DC~9 GHz，接口類型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列還可支持其他廠家的校準(zhǔn)件及客戶自定義校準(zhǔn)件的導(dǎo)入，從而保護客戶對校準(zhǔn)件的投資。

五、其他產(chǎn)品

      OP6031A/OP6033A/OP6035A是超高共模抑制比的光耦隔離探頭。傳統(tǒng)的差分探頭的共模抑制比在高頻段下降很快，導(dǎo)致準(zhǔn)確測量高共模干擾電壓下的小電壓信號波形（比如測量半橋電路的上管的驅(qū)動電壓）極其困難。OP6031A/OP6033A/OP6035A釆用了高性能的激光器光纖信號傳輸系統(tǒng)，從而在整個工作帶寬內(nèi)具有超高的共模抑制比，可以幫助我們的客戶用很低的成本完成這類挑戰(zhàn)性的測量。